高耐力光学素子研究会

 

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「高耐力光学素子研究会」のご案内

 当財団は、「レーザー損傷評価試験」を行う国内唯一の公的評価機関として、 多くの光学素子メーカー等にご活用いただております。
 「高耐力光学素子研究会」は、閾値をどう理解していいのか、他社と比べてどうか、 などの疑問にお応えするとともに、さらに現状を相互理解していただくことにより、 国内全体の光学素子耐力向上を図ることを目的として設置いたしております。 また、「光学素子レーザー損傷閾値データベース化試験」では、 各種光学素子のレーザー損傷閾値データベース構築を行い、その結果を公開いたしております。 これら本研究会等の活動にご賛同いただき、是非ご参加ください。

研究会名 高耐力光学素子研究会

目的
 国内の高出力レーザー用光学素子のデータベースを構築し、国内および海外製品との比較を可能にし、国内光学素子技術の向上を図る。
内容
 国際会議等の光学素子関連の情報提供及び情報交換を行う。また、有料にて光学素子のレーザー損傷閾値評価を実施し、 レーザー損傷閾値のデータベース構築を行う。(光学素子損傷データベース化試験を参照)
参加資格
「光学素子損傷データベース化試験」に参加意思がある。なお、2年間本データベース化試験に不参加の場合は、資格が消滅することをご承知願います。
参加料 無料


 

光学素子損傷データベース化試験

 本試験は、ご提供いただいた同一仕様の光学素子に対してレーザー損傷閾値評価試験を実施し、 レーザー損傷閾値のデータベースを公開するとともに、個別に損傷閾値結果を報告しています。 詳しくは、次回試験のご案内をご覧ください。

参加費 有料 100,000円/回(3個以内)
ただし、賛助会員は無料。賛助会員制度はこちらをご覧下さい
開催頻度 年2回

第19回仕様
品目 1064nm用高反射膜
仕様
◇入射角度:45°
◇偏 光:P偏光 ◇反射率:R>99.0%
◇基材:自由
◇基板サイズ:直径30mm~50.8mm、厚さ2mm~10mm
◇追加試料 3個を超える試験をご希望の場合は4個目から別途料金を頂きます(賛助会員も有料となります)
◇申込締切 平成29年5月19日(金)
◇試料締切 平成29年6月30日(金)
◇参加費 有料 100,000円/回(3個以内)


 

これまでの試験結果

 
第1回 (PDF) 1064 nm用 HRコート
第2回 (PDF) 1064 nm用 ARコート
第3回 (PDF)  532 nm用 HRコート
第4回 (PDF)  532 nm用 ARコート
第5回 (PDF)  355 nm用 HRコート
第6回 (PDF)  355 nm用 ARコート
第7回 (PDF) 248nm用 HRコート248nm用 石英ガラス基板
第8回 (PDF)  248 nm用 ARコート
第9回 (PDF)  1064 nm用 ダイクロイックミラー
第10回 (PDF)  532 nm用 ダイクロイックミラー
第11回 (PDF)  1064 nm用 高反射膜コート
第12回 (PDF)  1064 nm用 反射防止膜
第13回 (PDF)  532 nm用 高反射膜コート
第14回 (PDF)  532 nm用 反射防止膜コート
第15回 (PDF)  1064 nm用 平板型偏光子(P偏光)
第16回 (PDF)  1064 nm用 多層膜偏光子(S偏光)
第17回 (PDF)  355 nm用 高反射膜
第18回 (PDF)  355 nm用 反射防止膜


 

研究会アンケート結果

2010年9月~11月実施 (PDF)


 

Q&A・よくあるお問い合わせ 

 
Q. なぜ、データベース化試験は有料になったのですか?

A. 平成20年度から開始し、多くの皆様に御協力、ご参加を頂くようになりました。
その一方で、装置への負担も大きくなり、維持、調整費として有料とさせて頂き、より安定な評価を実施していきます。御理解ください。
但し、財団賛助会社においては、試料3個までは無料とします。
賛助会社の詳細は こちら をご覧下さい。
 

Q. 「高耐力光学素子研究会」へ参加することも有料ですか?

A. いいえ。研究会に参加し、情報交換を行なうことは無料のままです。
 

Q. 評価結果はどのように取り扱われるのですか?

A. 報告書例のような形式で、御提供頂いた試料の損傷閾値と、データベースのグラフを報告致します。 財団としては、グラフのみを公開致します。企業名、個々の損傷閾値結果、優劣に関する情報を公開することはございません。
 

Q. 提供した試料は、その後どうなりますか?

A. 有料化に伴い、希望により試料を返送致します。返送しなかった試料については、財団にて保管し、 他の照射条件にて評価を行い、個別にその結果をご連絡いたします。
 

Q. 提供する試料3個は、同じバッチ(ロット)のものでないとダメでしょうか?

A. 仕様を満たすものであれば、異なったバッチ、異なった膜設計のものでも問題ございません。 その情報も必要ございません。試料番号のみを明記ください。
 

Q. データベース化の仕様以外の評価試験は行わないのでしょうか?

A. これまで通り、御依頼の照射条件に合わせた「レーザー損傷評価試験」は随時御受けしております。 どうぞ御依頼ください。詳しくは こちら をご覧ください。
 

Q. 今回の仕様では、試料は提供できないのですが、研究会に参加できますか?

A. 研究会の申込みをして頂ければ、次回以降のデータベース化の仕様を御案内させて頂きます。 但し、主旨は現状の相互理解と技術の向上ですので、原則は御提供して頂くことを前提にしております。
 

Q. 今後のデータベース化の仕様は、どうなっていきますか?

A. >エキシマレーザーの193nm、248nmに対応した高反射膜、反射防止膜。 石英材料やフッ化カルシウムなどを予定しています。

 

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